產品詳情
簡單介紹：
TCI-XM清潔度顆粒檢測系統對清洗過濾后得到的濾有殘渣的濾紙，通過測量顯微鏡法觀察和測定殘渣顆粒的大小，與XA型的清潔度檢測系統的差別在XM型是手動型，所以一般可以適用于清潔度要求不是非常高的情況，如檢測大顆粒，或者顆粒較大而且數量不多。
簡易型顆粒測試系統
簡易型顆粒測試系統
簡易型顆粒測試系統
詳情介紹：
TCI-XM清潔度顆粒檢測系統對清洗過濾后得到的濾有殘渣的濾紙，通過測量顯微鏡法觀察和測定殘渣顆粒的大小，與XA型的清潔度檢測系統的差別在XM型是手動型，所以一般可以適用于清潔度要求不是非常高的情況，如檢測大顆粒，或者顆粒較大而且數量不多。
特點：
●通過數碼攝像頭可以在計算機監視器上直接觀察、測量顆粒，準確測定非金屬、金屬顆粒的大小
●能同時將金屬顆粒的反光區和陰影區合并測量
●鼠標引導測量（鼠標移動相應顆粒），自動給出測量數據
●對于測試顆粒分類匯總
●任意排版的圖文混編的報告輸出
●顆粒范圍：3微米—5000微米
●濾紙：25/47/50/100
整體性能指標：
放大倍率：8X—50X
顆粒范圍：3微米—5000微米
濾紙：25/47/50/100
標準配置
○ 清潔度測量顯微鏡
○ 環形冷光源
○ 手推平臺帶濾紙托盤
○ 300萬像素高速工業數碼攝像頭
○ 0.05mm 物鏡測微尺
○0.1mm 目鏡測微尺
○ TCI 清潔度測試分析軟件
○ Dell計算機
○ Hp打印機
TCI-XM 經濟型清潔度檢測系統對清洗過濾后得到的濾有殘渣的濾紙，通過顯微鏡法觀察和測定殘渣顆粒的大小，與XA型的清潔度檢測系統的差別在XM型是手動型，所以一般可以適用于清潔度要求不是非常高的情況，如檢測大顆粒，或者顆粒較大而且數量不多。
